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IMLD-B型中空玻璃露点仪说明书
一、设备功能
根据试验设备所用的材质不同，我公司生产设计了两个不同种类的中空玻璃露点仪，分别为IMLD-A（干冰式）中空玻璃露点仪与IMLD-B（半导体式）中空玻璃露点仪。
中空玻璃露点仪是我公司根据GB/T11944—2012《中空玻璃》的规定条件自主研发与生产的试验设备。放置露点仪后，玻璃表面冷却，当达到一定温度以后，内部水汽在冷点部位结露，该温度为露点。用来测量中空玻璃的露点，检测中空玻璃试样内表面在标准规定条件和方法情况下是否结露。
二、设备特点
1、试验箱体外壳采用喷塑方法，也就是我们经常说的静电粉末喷涂法，使得机箱外观质量优异，机械强度强，防腐蚀、不生锈。
2、采用半导体三级制冷的技术，制冷效果，数据稳定。
3、利用数显表对所需的试验温度进行控制，并且可以实时的显示测温点的温度值。
4、试验的操作过程方便，试验设备不仅可以在试验室内使用，而且可以在现场进行检测。
5、不需要使用容易挥发的干冰做试验，成品更加的低廉。
6、设备中的探头和制冷机组可实现*分离，方便实用且不受试件方向限制。
7、采用pt100温度探头，测量精度高，数据准确。
8、液体循环使用耐压耐腐蚀的橡胶管，增加了露点仪的使用寿命。
9、温度值控制采用微机温控PID调节技术，控温精度高，温度稳定性高。
10、安全性能高，在设计的过程中电路与制冷循环的独立化，使得设备电气部分不受液体循环的影响，从而保证了电器部分采集数据的稳定性。
11、集成了电源、冷却、循环和控制系统，实现全过程自动控制。
12、在试验过程中，探头的工作面与试件接触，探头的工作面可以为任意方向。
13、试验过程可以根据详细的产品说明书，按步骤执行。整个试验操作简单易学。
二章产品详细技术方案
一、概述
测量试样的露点，一般是将测量器件放置在试样的表面，将温度冷却到等于或低于-60℃并保持此温度，达到设定的时间以后，观察试样的结露情况。半导体中空玻璃露点仪是利用制冷机组对循环液体进行降温，进而使测量点的温度下降的过程。而利用温控表来控制与显示试验温度点，增加了试验设备的智能化。
二、适用标准
GB/T11944-2012《中空玻璃》
GB/T7020-1986《中空玻璃测试方法》
BS5713：1979《中空玻璃技术要求》
ASTME546-88《中空玻璃结霜点测试方法》
JISR3209-1998《中空玻璃》
三、性能指标
1、控制箱尺寸：470mm×550mm×700mm；
2、测量探头工作温度：-60℃～-40℃；
3、数显温度计测量范围：-65℃~+50℃（注：测量范围可调）；
4、温度分辨率：1℃；
5、试验环境温度：23℃±2℃；
6、试验环境相对湿度：30%RH~75%RH；
7、工作电压：AC220V。
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